半導體先進檢測與計量國際論壇
2026-09-04 | 上午 9:00 - 下午 3:55
主題
Enabling Next-Generation Semiconductor Manufacturing with AI & Advanced Inspection & Metrology
主辦單位
贊助單位
報名費用（含稅）
時段
SEMI 會員
非會員
超早鳥優惠
5/20 - 6/17
SEMI 會員
NT$ 3,308
非會員
NT$ 4,337
早鳥優惠
6/18 - 8/5
SEMI 會員
NT$ 3,780
非會員
NT$ 4,956
原價
8/6 - 8/30
SEMI 會員
NT$ 4,725
非會員
NT$ 6,195
現場價
8/31 - 9/4
SEMI 會員
NT$ 6,143
非會員
NT$ 8,054
學生票
不含 EMBA
需出示有效學生證
NT$ 882
單日論壇通行證
（含稅）
1日NT$ 13,755
2日NT$ 26,040
3日NT$ 36,960
4日NT$ 46,515
5日NT$ 54,915
團報優惠（使用期限至 8/19）：3 位以上團體報名或報名 3 場以上論壇享 85 折優惠。
＊主辦單位保留調整或更改活動議程之權利，最終議程以現場安排為準。
Featured Speakers
Agenda
Keynote: Challenges and Opportunities for Metrology and Inspection of Advanced Packaging
鄒志華博士
台積公司
上午 9:45 - 上午 10:25
Materials and Chemical Metrology to Enable the Semiconductor Industry
Dr. R. Joseph Kline
National Institute of Standards and Technology
上午 10:25 - 上午 10:50
X-Ray Technology for Advanced Semiconductor Manufacturing
傅尉恩博士
工業技術研究院
上午 11:05 - 上午 11:30
Laser-driven secondary sources for next-gen Metrology
Dr. Torsten Mans
TRUMPF Laser SE
下午 2:00 - 下午 2:25
In-Line 3D SEM Metrology and Inspection for Technology Inflections in Memory, Logic and Advanced Packaging
Mr. Nimrod Shuall
Thermo Fisher Scientific
下午 2:40 - 下午 3:05